سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: هفتمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

حسین زابلیان – گروه فیزیک، دانشگاه اصفهان
حمیدرضا فلاح – گروه فیزیک، دانشگاه اصفهان
حمیدرضا رهنما – شرکت صنایع اپتیک اصفهان

چکیده:

در این تحقیق دو نوع مختلف از آینه های با بازتاب بالای ۱۰۶۴ نانومت ر مورد بررسی قرار گرفت . این آینه ها یکی با حضور پوشش محافظ بیرونی و دیگری بدون آن و هر دو با انباشت به روش پرتو الکترونی و در شرایط یکسان لایه نشانی شدند . آستانه آسیب لیزری نمونه ها توسط لیزر Nd:YAG در ۱۰۶۴ نانومتراندازه گیری شد . شکل آسیب ها با میکروسکوپ مشاهده گردید . بازتاب نمونه ها توسط طیف سنج اندازه گیری شد . نتایج نظری توزیع میدان الکتریکی نمونه ها به وسیله نرم افزار لایه نازک مورد بررسی قرار گرفت. نتایج بررسی های به عمل آمده نشان داد که لایه خارجی SiO2 آستانه آسیب نمونه ها را به طورکاملاً مشخصی بهبود بخشید . شکل آسیب ها در حضور لایه محافظ به صورت یک حلقه و بدون آن کاملاً گداخته و ذوب شده بود.