سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

محمدهادی مهدوی – کارشناس ارشد-دانشگاه فردوسی مشهد،گروه مکانیک
انوشیروان فرشیدیان فر – استادیار- دانشگاه فردوسی مشهد، گروه مکانیک
حمید دلیر – دکترا – دانشگاه صنعتی توکیو، آزمایشگاه هوش مصنوعی و ابزار دقیق

چکیده:

میکروسکوپ ن یروی اتم ی ١ یا به اختصار AFM ابزاری قدرتمند و ضروریبرای مطالعه، تصو یربرداری و شناسا یی مواد مختلف با تفک یک اتم ی است که در سه مد تماس ی، غ یر تماس ی و کوبش ی کار م یکند . در ا ی ن مقاله آنال یز فرکانس بالا ی تیر یکسرگیردار مورد استفاده در این دستگاه که در مد غ ی ر تماسی کار م یکند بررس ی م یشود . ی افتن فرکانسها ی طب یع ی و تحل ی ل فرکانسی مجموعه مرتعش، از اهم یت بس یار ز یادی برخوردار است و ط ی ف وسیعی از تحق یقات به ا ین موضوع م یپردازد. در ا ی ن مقاله ابتدا معادلات ارتعاشی ت یر با در نظر گرفتن جرم و ممان ا ینرسی جرم ی ت ی پ انتها ی آن که قبلأ از آن صرفنظر م یشده است به روش حل تحل یل ی دق ی ق استخراج شده است . سپس م یزان تفاوت نتا یج حاصل از معادلات قبلی با معادلات اخیر در مطالعه مورد ی بررس ی شده است . نتایج حاصله نشان م یدهد که اثر جرم و ممان ا ینرسی ت یپ بسته به ابعاد آن، قابل ملاحظه بوده و بایست ی در نظر گرفته شود.