سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۶

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

احمد درودی – گروه فیزیک دانشگاه زنجان
محمدتقی توسلی – گروه فیزیک دانشگاه تهران
محسن دشتی – گروه فیزیک دانشگاه زنجان

چکیده:

در این مقاله بر اساس تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس، روشی جهت اندازه گیری پارامترهای سیستم چند لایه با سطوح کروی ارائه میشوند . این پارامترها شامل شعاع انحنای سطوح، صخامت و ضریب شکست لایه ها هستند . در یک بازوی تداخل سنج مایکلسون با منبع نور کوتاه همدوس، باریکه کروی حاصل از یک عدسی محدب به نمونه تابیده میشود . با جابجا کردن نمونه نسبت به عدسی مکانی که باریکه بر هر سطح میتابد و بر میگردد اندازه گیری میشود . همزمان با جابجا کردن بازوی دیگر تداخل سنج مکانی که فریز تداخلی تشکیل میشود مشخص میگردد . بدینوسیله اختلاف راه نوری باریکه های انعکاسی پیرامحوری از سطوح اندازه گیری میشود . این اندازه گیری ها معادله های لازم را برای محاسبه پارامترهای هر لایه را ایجاد میکنند . آزمایش بر روی یک عدسی دوتائی صورت گرفته است . نتایح دقت نسبی %۰,۱ در محاسبه پارامترهای مذکور را، با توجه به امکانات موجود، نشان میدهد .