سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: دومین همایش دانشجویی فناوری نانو

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

شاداب باقری – تهران، دانشگاه صنعتی امیرکبیر، دانشکده مهندسی شیمی
حمید میرزاده – تهران، دانشگاه صنعتی امیرکبیر، دانشکده مهندسی شیمی ، تهران، پژوهشگ

چکیده:

در این تحقیق، فیلم های پلی استایرن با استفاده از لیزر اکسایمر اصلاح شده و به این منظور از لیزر ArF با طول موج ۱۹۳nm استفاده شده است. تغییرات سطحی با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) بازتاب کلی تضعیف شده تبیدل فوریه مادون قرمز (ATR-FTIR) و اندازه گیری های زاویه تماس بررسی شد. تصاویر AFM , SEM حاکی ازتغییر مورفولوژی سطح بعد از اصلاح سطح توسط لیزر بود. ساختارهای ایجاد شده بر روی نمونه های اصلاح شده با لیزر در حد نانومتر بوده است. بررسی تغییرات ابدوستی و انرژی آزاد سطحی نمونه ها نشان داد. پس از اصلاح نمونه های اصلاح شده با لیزر در حد نانومتر بوده است. بررسی تغییرات آبدوستی و انرژی آزاد سطحی نمونه ها نشان داد. پس از اصلاح نمونه ها توسط لیزر با ۱ پلس ابتدا قطبیت سطح افزایش و پس از آن با افزایش تعداد پالس ها به ۵و۱۰ کاهش یافت. بررسی تغییرات شیمیایی توسط طیف ATR-FTIR نشان دهنده تشکیل شدن گروه های قطبی مثل پراکسید و هیدروکسیل بر روی سطح پلی استایرن بعد از انجام پرتودهی با لیزر است.