سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: نهمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

مصطفی شیرین پور – گروه فیزیک، دانشگاه آزاد مراغه
محمد مهدی کارخانه چی – گروه برق، دانشکده فنی مهندسی دانشگاه رازی
محمدعلی رخش ماه – گروه برق، دانشکده فنی مهندسی دانشگاه رازی

چکیده:

وریستورهای سرامیکی اکسید روی با استفاده از روش استاندارد و با آلایش اکسیدهای Co ,Cr ,Pr و La ساخته شد. در پودر تهیه شده از اکسیدهای مذکور La2O3 با میزان ۰/۵%، ۱/۰% و ۱/۵% مولی آلایش یافته اند. پودر آسیاب شده را ر ˚۶۵۰C به مدت ۲ ساعت تکلیس نمودیم و سپس طیف XRD جهت مطالعه فازها تهیه کردیم. قرص های به ضخامت ۱۳ میلیمتر در فشار ۶ تن ساختیم که در دماهای ۱۲۵۰، ۱۳۰۰ و ۱۳۵۰ درجه سانتیگراد بازپخت شده اند. در نهایت نمونه ها را الکترود گذاری و منحنی E-J را رسم نموده و ضریب غیر خطی و جریان نشتی را حساب کردیم. برای ارزیابی ریز ساختار تصاویر SEM و برای تعیین ضخامت مرزدانه و اندازه دانه ها آنالیز نقطه ای EDX را تهیه نمودیم. ضخامت بین دانه ای با افزایش غلظت اکسید لانتانیم به تدریج بیشتر شد. مطالعه قرص ها نشان داد که آلایش ۰/۵% مولی La2O3 در دمایی بازپخت ˚۱۳۰۰C دارای مشخصه های بهینه است.