سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۶

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

مجتبی ثروت خواه – دانشگاه شیراز

چکیده:

در این پژوهش با استفاده از دستورالعمل انتشارات مرجع ناسا آستانه تخریب القایی لیزری لایه های نازک MgF2 که با استفاده از روش تبخیر بر روی BK7 لایه نشانی شده اند و دارای ضخامت های متفاوت میباشند، اندازه گیری شده است . نتایج نشان دهنده آن است که با افزایش ضخامت لایه آستانه تخریب نیز افزایش میابد که این با نتایج دیگران در توافق است