سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: هشتمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

مجید قناعت شعار – هیئت علمی دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
محمدمهدی طهرانچی – هیئت علمی، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
نجمه نبی پور – دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
سیده مهری حمیدی – دانشجوی دکتری دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر

چکیده:

با استفاده از میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM)، میکروساختار و ساختار نواحی مغناطیسی آلیاژ نواری آمورف کبالت پایه (Co(68.15)Fe(4.35)Si(12.5)B(15 ، که مورد تابش لیزر- پالسی Nd-YAG با طول موج ۱۰۶۴nm، پهنای پالس ۶ns و انرژی ۱۶mj قرار گرفته است بررسی می شود تابش باریکه لیزری با پارامترهای مشخص، علاوه بر اینکه تغییر توپوگرافی سطح، تشکیل فازهای نانوبلوری، اکسیداسیون سطحی و نیز گذار حالت آمورف به حالت بلوری را به دنبال دارد، همچنین سبب تغییراتی در اندازه و شکل نواحی مغناطیسی نمونه می شود. نتایج بدست آمده نشان دهنده آن است که تحت شرایط خاص آزمایش و با تغییر نرخ تکرار پالس، خرشدن نواحی مغناظیسی رخ نداده اما تغییر شکل نواحی اتفاق می افتد. تغییر شکل نواحی که با تغییر صافی سطح همراه است دال بر ایجاد تغییراد موضعی در ناهمسانگردی مغناطیسی و توزیع آن است. به منظور بررسی اثرات حاصل از تابش ذکر شده در پی تغییر نرخ تکرار پالس، امپدانس مغناطیسی ماده نیز مطالعه می شود. با توجه به اینکه امپدانس مغناطیسی به شدت از تغییرات سختی مغناطیسی و نیز سختی ساختاری ماده تأثیر می پذیرد این امر پارامتر به عنوان یک پارامتر ماکروسکوپی در تعیین و تأیید اثرات ناشی از تغییر پارامترهای میکروسکوپی، نقش بسزایی خواهد داشت.