سال انتشار: ۱۳۸۴

محل انتشار: دوازدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

سکینه حسن آبادی – گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا، تهران
عبدالله مرتضی علی – گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا، تهران
رضا جعفری – گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا، تهران

چکیده:

در این مقاله ، دقت تقریب کیرشوف را در مورد پراکندگی حاصل از سطح شیشه با نتایج تجربی مورد ارز یابی قرار می دهیم . بدین منظور با استفاده از محلول HF در زما نهای متفاوت خوردگیهای دلخواه را ایجاد نموده و به کمک میکروسکوپ AFM (درمقیاس کوچک) و ارتفاع سنج تالی سورف ( در مقیاس بزرگ ) ابعاد ناهمواری سطح را تعیین کرده و در روابط کیرشوف جایگزین و نتایج حاصله پراکندگی را با نتایج تجربی مقایسه و پیشنهادات لازم ارایه شده است .