سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فتونیک ایران

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

مهدی اردیانیان – دانشکده فیزیک دانشکده علوم پایه ، دامغان ، ایران ،

چکیده:

لایه های نازک اکسیدژرمانیوم به شیوه تبخیرحرارتی ستون الکترون تهیه وتحت بازپخت قرارگرفتند بررسی ساختارفیلمهای به وسیله طیف سنجی فروسرخ ورامان نشان داد که دراثربازپخت ساختار شیمیایی لایه ها بهبود یافته ضمن این که دراثرتجزیه جزئی فازی ازژرمانیوم خالص آمورف به وجود می آید طیف فتولومینسانس نمونه ها نشان دهنده دوباند مرئی و فروسرخ بسته به دمای بازپخت می باشد باند فروسرخ باگاف انرژی ژرمانیوم سازگاروبه اثرمحدودیت کوانتومی ذرات ژرمانیوم آمورف محدود شده درمحیط دی اکسید ژرمانیوم نسبت داده می شود .