سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: چهاردهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران

تعداد صفحات: ۳

نویسنده(ها):

داود کلهر – آزمایشگاه تحقیقاتی فیزیک حالت جامد – دانشکده فیزیک – دانشگاه علوم پایه
معصومه موسی رضایی – گروه فیزیک – دانشکده علوم- دانشگاه بین المللی امام خمینی- قزوین
مریم حسن زاده مها – آزمایشگاه تحقیقاتی فیزیک حالت جامد – دانشکده فیزیک – دانشگاه علوم پایه
مریم حسین پور – آزمایشگاه تحقیقاتی فیزیک حالت جامد – دانشکده فیزیک – دانشگاه علوم پایه

چکیده:

در این کار لایه های نازک ITO و AZO که به روش تبخیر حرارتی ساخته شده اند ، با یکدیگر مقایسه شده اند . لایه های ITO در ضخامت های ۲۰۰ و ۲۵۰ نانومتر روی زیر لایه شیشه در دمای محیط نشانده شد . همچنین لایه های AZO به ضخامت ۱۰۰ نانومتر نیز به همین روش در دمای ۱۵۰ درجه سانتی گراد نشانده شدند. در طی لایه نشانی از سیستم گردان نمونه برای تامین یک نواختی استفاده شد . پس از لایه نشانی ، نمونه ها جداگانه به مدت یک ساعت پخت داده می وند . در پایان ، نمونه ها به وسیله آنالیز XRD و اکسپکترو فتومتری، مورد ارزیابی قرار گرفت.