سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فتونیک ایران

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

حسن بیدادی – گروه حالت جامد و الکتونیک ، دانشکده فیزیک ، دانشگاه تبریز ،
بیان کریمی – گروه حالت جامد و الکتونیک ، دانشکده فیزیک ، دانشگاه تبریز
فرامرز هادیان – گروه حالت جامد و الکتونیک ، دانشکده فیزیک ، دانشگاه تبریز
علی رحمتی – گروه حالت جامد و الکتونیک ، دانشکده فیزیک ، دانشگاه تبریز

چکیده:

در این کار تجربی لایه های نازک نیتریدمس به روش کندو پاش مگنترونی واکنشی DC بر روی زیر لایه های شیشه ای نهشته شده اند . برای نهشت لایه ها آهنگ شارش آرگن در sccm25 ثابت و آهنگ شارش نیتوزن از sccm15-2/5 تغییر داده شدهاند . آنالیز پراش اشعه ایکس نشان می دهد که فیلم های نیترید مس از طریق عملیات حرارتی در دمای c200تجزیه می شوند و بررسی های آنالیز UV/VIS/NIR نشان می دهد ککه مقدار گا اپتیکی لایه های نیترید مس در رنجی از ۰/۸-۱/۸eV تغییر می کند . این نتایج نشان میدهد که ماده نیترید مس دارای یک پتانسیل عالی برای استفاده در وسایل انبارنده اپتیکی یکبار قابل نوشتن (تک رایت ) می باشد