سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: چهاردهمین همایش بلور شناسی و کانی شناسی ایران

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

رسول اژنیان – آزمایشگاه لایه نازک – دانشکده فیزیک دانشگاه علم و صنعت ایران
سارا پیری پیشکلو – آزمایشگاه لایه نازک – دانشکده فیزیک دانشگاه علم و صنعت ایران
فاطمه سلطانی – آزمایشگاه لایه نازک – دانشکده فیزیک دانشگاه علم و صنعت ایران

چکیده:

برای بررسی ساختار و ناهمواری های سطوح رسانا ها، نیمه رساناها و سطوح بلورین آنها، تا حد ابعاد نانومتری از میکروسکوپ تونلی روبشی استفاده می شود. دو جز اصلی تشکیل دهنده این میکروسکوپ الکترودهای آن، یعنی نوک دستگاه و سطح نمونه می باشند. در این مقاله با روش سونش الکتروشیمیایی ، سعی در بهینه سازی کیفیت تصاویر از طریق بهبود ساختار نوک ها نموده ایم.نوک های پلاتین ایریدیم از سیم آلیاژ پلاتین – ایریدیم (۸:۲۰) به قطر ۰٫۲۵mm تهیه می شوند. برای تولیدآنها از روش سونش الکتروشیمیایی استفاده کرده ایم. در این روش، محلول الکترولیت محلول خاصی از آب و اسید کلریدریک و نمک طعام است. کاتد از جنس گرافیت و ولتاژ ۶ ولت متناوب به کار برده میشود. پس از سونش الکتروشیمیای، نوک ها با آب مقطر شسته میشوند. برای بررسی نتیجه آن ها را در دسنگاه میکروسکوپ تونلی روبشی easy scan شرکت nansourf قرار داده و با آن ها تصویر برداری می کنیم. تصویر برداری از سطح نمونه گرافیت با توجه به دستگاه نمایشی easy scan1 شرکت nanosurf نتیجه نسبتا خوبی را نشان می دهد.