سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: دوازدهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران

تعداد صفحات: ۸

نویسنده(ها):

مهدی سعیدی – دانشجوی دکترا، دانشکدة مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانشگاه صن
مرتضی صاحب الزمانی – دکترا، عضو هیأت علمی، دانشکدة مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانش
سعادت پورمظفری – دکترا، عضو هیأت علمی، دانشکدة مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانش

چکیده:

با ورود به دورة طراحی نانومتر ی، اجزای مختلف مدار و نیز سیم های اتصا ل دهندة آنها در ف واصل بسیار نزدیکی از یکدیگر جایابی م یشوند و احتمال بروز نویز همشنوایی در سی مهای مجاور بیشتر و بیشتر شده اس ت. از ای ن رو، یک نیاز صریح در استفاده از رو شهای اجتناب از نویز همشنوایی در روند طراحی مداراتVLSI وجود دار د. در دیگر سو کوچک شدن سریع تکنولوژی ساخت ،تغییرپذیری زیادی در پارامترهای طراحی و ساخت ایجاد کرده است که این تغیی رپذیری م یتواند به عدم توانایی پی ش بینی پارامترهای مداری پیش از ساخت آن منجر شو د. در این مقاله با استفاده از یک روش آماری، تأثیر تغییرپذیری فرآیند ساخت بر روی رو شهای اجتناب از نویزهمشنوایی مدل شده اس ت. با استفاده از روش ا رائه شده ، چندین فرم بسته که نشان دهندة چگونگی
این تأثیر اس ت، ارائه و ارزیابی شده اس ت. مقایسة نتایج بدست آمده از این مدلسازی و نتایج حاصل از تحلیل مونت کارلو نشان م یدهد که روش پیشنهادی برای مدل کردن این تغییرات بسیار کارآمد عمل می کند.