سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: شانزدهمین همایش انجمن بلور شناسی و کانی شناسی ایران

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

الهام شادمانی – دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان
سید محمد روضاتی – دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان

چکیده:

در این مطالعه، ما ویژگی های ساختاری فیلم های نازک ۲SnO را با تاکید بر انتخاب نوع ماده مورد بررسی قرار دادیم.شرایط تهیه فیلم ها بجز ناخالصی ماده برای تمام نمونه ها یکسان بود. نتایج XRD نشان می دهد که فیلم ها با درصد خلوص متفاوت دارای جهت های متفاوتی هستند. که جهت های غالب آنها عبارتند از: ( ۱۰۱ ، ۲۱۱ و ۲۰۰ ) تغییر در دمای زیرلایه برای یک خلوص خاص نیز بررسی می شود که کمترین مقاومت و بیشترین شفافیت در دمای C 450 به ترتیب ۷۷ اهم بر سانتی متر مربع ۷۴ % است.