سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: شانزدهمین همایش انجمن بلور شناسی و کانی شناسی ایران

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

آرش پاکدل – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه گیلان
فرهاد اسمعیلی قدسی – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه گیلان
محمد یونسی – گروه فیزیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد آیت الله آملی آمل

چکیده:

ر این کار بعد از تهیه فیلم های نازک اکسید روی با روش غوطه وری سل – ژل، تأثیر دمای عملیات باز پخت را برخواص ساختاری و اپتیکی این فیلم ها مورد بررسی قرار دادیم. خواص ساختاری فیلم ها به وسیله آنالیز XRD طیف بازتابی فیلم ها به وسیله طیف سنج UV-visible اندازه گیری شد. از روی طیف بازتابی تجربی فیلم ها و با استفاده از روش بهینه سازی نا مقید ثابت ها اپتیکی (ضریب شکست، ضریب خاموشی، گاف نواری و ضخامت) در گستره طول موجهای مرئی ست آمد. نتایج نشان می دهد که با افزایش دمای باز پخت و شدت قله های پراش، از شدت طیف عبوری و ضخامت فیلمها کاسته شده، ضریب شکست و ضریب خاموشی فیلمها افزایش یافته و گاف نواری کاهش می یابد.