سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۵

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

فلورا حشمت پور – دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی ،دانشکده علوم پایه، تهران
هادی عادلخانی – گروه لیزر حالت جامد، پژوهشکده لیزر و اپتیک سازمان انرژی اتمی ایران
مهدی نهاوندی – دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی ،دانشکده علوم پایه، تهران
منصور نوربخش شورابی – گروه لیزر حالت جامد، پژوهشکده لیزر و اپتیک سازمان انرژی اتمی ایران

چکیده:

با استفاده از روش Sol-Gel ، فیلم های نازک SiO2 بر روی بستر لام میکروسکوپ تهیه شد . تغییر برخی از خواص فیلم حاصل ، مثل : میزان عبور نور در ناحیه UV-Vis و مورفولوژی سطحی فیلم نسبت به سرعت کشش وpH سل بررسی شد . با افزایش pH میزان عبور نور در ناحیه مرئی افزایش یافت . با توجه به تصاویر SEM تهیه شده از سطح فیلم مشخص گردید که میزان تخلخل در فیلمهای حاصل از سل بازی بیشتر است وسطح این این فیلم ها از ذراتی به قطر ۴۰-۳۵ نانو متر تشکیل شده است در حالی که در نمونه های تهیه شده از سل اسیدی سطحی کاملا یکنواخت مشاهده شد .