سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: پانزدهیمن کنفرانس مهندسی برق ایران

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

علی پورغفاری بشری – دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانشگاه صنعتی امیرکبیر، ت
سعادت پورمظفری – دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانشگاه صنعتی امیرکبیر، ت

چکیده:

در سالهای اخیر تکنیکهای BIST از حالت سنتی DFT کم کم فاصلهگرفته و به سمت SFT متمایل شده اند. در نظر گرفتن ملاحظات آزمون پذیری در طی مراحل سنتز رفتاری، ضمن افزایش کیفیت آزمون پذیری، باعث کاهش سربار ناشی از آن نیز می شود. در این مقاله، یک الگوریتم تخصیص ثبات، با در نظر گرفتن معیارهای آزمون پذیری ارائهشده است که در طی مراحل سنتز سطح رفتاری، محدودیتهای آزمون پذیری ، در نحوه تخصیص ثباتها به متغیرها، در جهت خود آزمون پذیرتر شدن مدار دخالت می کنند.