سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: اولین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

علیرضا بتانج – پژوهشکده لیزر و اپتیک – پژوهشگاه علوم و فون هسته ای – سازمان انرژی اتمی ا
سمیه امیری – دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی
بهرام ملت نواز – پژوهشکده لیزر و اپتیک – پژوهشگاه علوم و فون هسته ای – سازمان انرژی اتمی ا
علی محمدی – پژوهشکده لیزر و اپتیک – پژوهشگاه علوم و فون هسته ای – سازمان انرژی اتمی ا

چکیده:

در طول ZrO2 و TiO2 لایه های دی الکتریک (k) و ضریب خاموشی (n) چکیده : هدف از این مقاله بررسی تجربی تغییرات ضریب شکست موجهای مختلف ( منحنی پاشندگی ) میباشد . به همین منظوربا استفاده از نقاط بیشینه و مشاهده شده در طیف عبوری تجربی لایه های ضریب شکست و ضریب خاموشی این مواد در طول موجهای متفاوت محاسبه شده ، (Envelope Method) نازک و استفاده از روش پوش همچنین اثر تغییرات حرارتی بر منحنی پاشندگی این لایه ها بررسی گردیده است .