سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: نهمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

حامد نجفی آشتیانی – گروه فیزیک دانشگاه ایرانشهر
خاطره باقرپور – گروه شیمی دانشگاه سیستان و بلوچستان زاهدان

چکیده:

در این تحقیقلایه های نازک الکتروکرومیک تری اکسید تنگستن به روش فیزیکی تبخیر حرارتی در خلاء تهیه شده و به منظور استفاده در قطعات الکتروکرومیک مورد مطالعه اپتیکی قرار گرفته است. نتایج اپتیکی این مطالعات که از طیف جذبی، طیف عبوری، انرژی گاف، ثوابت اپتیکی n و k و اندازه دانه بندی کریستال لایه ها بدست آمده شان داد که افزایش دمای بازپخت در هر ضخامت موجب افزایش میزان جذب، کاهش میزان عبور و همچنین کاهش گاف انرژی می گردد. طیفXRD از نمونه ها در دماهای بازپخت متفاوت نیز موید بلوری شدن لایه ها در دماهای بازپخت بالا می باشد. در پایان اثر افزایش ضخامت بر پارامترهای ذکر شده بررسی و با استفاده از طیف های بدست آمده نوع گذار و تغییرات آنها بر حسب ضخامت و دمای بازپخت تعیین شده است و سپس اندازه دانه بندی کریستالی مقایسه شده است.