سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: نهمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

منصور فربد – گروه فیزیک دانشگاه شهید چمران اهواز
فروغ قبلی – گروه فیزیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات اهواز
ایرج کاظمی نژاد – گروه فیزیک دانشگاه شهید چمران اهواز

چکیده:

لایه های نازک اکسید روی به روش غوطه وری تهیه شده اند . آنالیز پراش XRD برای بررسی ساختار بلوری و آنالیز میکروسکوپ الکترونی (SEM) برای بررسی ساختار اکسید روی مورد استفاده قرار گرفته است . الگوی XRD پیک ( ۱۰۱ ) ساختار ورتزایت اکسید روی را نشان می دهد . تصویر SEM نشان می دهد نانوذرات به طور یکنواخت روی زیرلایه شیشه ای رشد کرده اند ، که اندازه متوسط ذرات ۳۵ نانومتر است .