سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: دومین همایش دانشجویی فناوری نانو

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

مرتضی منصور – گروه فیزیک، دانشگاه بوعلی سینا، همدان، ایران
مهدی حاج ولیئی – گروه فیزیک، دانشگاه بوعلی سینا، همدان، ایران

چکیده:

لایه های نازک نانوبلورهای اکسید روی از پخت لایه های نازک روی که به روش کندوپاش لایه نشانی شده اند، تهیه شده است . زیرلایه بکار رفته در این تحقیق از جنس شیشه بوده و دایره ای شکل هستند . این نمونه ها سپس با استفاده از پراش سنج اشعه ایکس، روش بیناب نمایی فرابنفش – مرئی و استفاده از میکروسکوپ الکترونی مورد مطالعه و بررسی قرار گرفته است . در این مطالعه نانوذرات اکسید روی با اندازه های متوسط ۳۳ نانومتر تشکیل شدند . گاف انرژی برای این ذرات در حدود ۳/۹ الکترون – ولت بدست آمد