سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فتونیک ایران

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

گلاویژ احمدی پناه – بخش فیزیک ، دانشکده علوم پایه ، دانشگاه تربیت مدرس ، تهران گروه فیزیک د
رسول ملک فر – بخش فیزیک ، دانشکده علوم پایه ، دانشگاه تربیت مدرس ، تهران
اکبر چراغی – دانشکده علوم پایه ، دانشگاه شهید ستاری ، تهران
جلال روح الله نژاد – بخش فیزیک ، دانشکده علوم پایه ، دانشگاه تربیت مدرس ، تهران

چکیده:

بلور پتاسیم تیتانیل فسفات (KTP) از جمله بلور های با ویژگی اپتیکی غیر خطی است که به عنوان ماده استاندارد کاربرد فراتوانی در صنعت . پزشکی و غیره دارد . در این مقاله به بررسی چگونگی رشد و تجزیه و تحلیل نتایج به دست آمده از نانو بلورهای KTP که به روش پچینی اصلاح شده تهیه می شود پرداخته شده است با استفاده از طیف پراش اشعه ی X طیف سنجی پس پاکندگی لیزری میکرورامان و طیف سنجی FTIR ساختار و ریخت شناسی نانویی این بلور مورد بررسی قرار می گیرد تصویرگیری میکروسکوپ الکترونی جاروبی (SEM) جهت بررسی میزان ابعاد نانو بلورها استفادهع شده است