سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: نهمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

گلاویژ احمدی – دانشکده علوم پایه دانشگاه تربیت مدرس، دانشگاه رفسنجان
رسول ملک فر – گروه فیزیک، دانشگاه تربیت مدرس ، تهران
اکبر چراغی – دانشکده علوم پایه، دانشگاه تربیت مدرس و دانشگاه شهید ستاری، تهران
محمد خانزاده – دانشکده علوم پایه دانشگاه رفسنجان، رفسنجان

چکیده:

بلور پتاسیم تیتانیل فسفات (KTP) از جمله بلورهای با خاصیت اپتیکی غیرخطی است که به عنوان ماده استاندارد کاربرد فراوانی در صنعت، پزشکی و غیره دارد. در این مقاله به بررسی چگونگی رشد و تجزیه و تحلیل نتایج به دست آمده نانو بلورهای KTP با تزریق مواد Ho%5 ، Gd%5 و Ho%10 که به روش پچینی اصلاح شده تهیه شده است پرداخته شده است. با استفاده از طیف سنجی پس پراکندگی لیزری میکرورامان و طیف سنجی FTIR ساختار و طیف سنجی UV بلور مورد بررسی قرار می گیرد.