سال انتشار: ۱۳۸۸

محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فتونیک ایران

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

زهره حریریان – پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای – پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
ناصر پرتوی شبستری – پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای – پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
مریم قشلاقی – پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای – پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
محمدهادی ملکی – پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای – پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا

چکیده:

در این مقاله، با استفاده از روش تداخل سنجی طرح اسپکل دیجیتالی (DSPI) طرحهای تداخلی به صورت دیجیتالی ثبت و با انجام پردازش تصویر روی عکس های دیجیتالی گرفته شده میزان تغییر شکل و جابجایی درهر پیکسل محاسبه می شود و سپس با مشتق گیری از توزیع تغییر شکل به دست آمده، توزیع کرنش در روی سطوح به دست می آید.