سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۷

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

عبدالعلی ذوالانواری – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک
جعفر نظام دوست – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک – جهاد دانشگاهی
حسین صادقی – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک

چکیده:

در این مقاله رشد و مشخصه یابی نانو ساختارهای آهن و مس بر روی زیر لایه ها ئی از جنس سیلیکون ( ۱۰۰ ) و ( ۱۱۱ ) از نوع n و p با ضخامتهای ۱۵۰-۵۰نانومتر برای آهن و ۲۰۰-۵ نانومتر برای مس، مورد مطالعه قرار گرفته است. از روی تصاویر AFM زبری، راستای چینه بندی و سایر پارام ترهای ساختاری مربوط به لایه ها ی نازک آهن و مس محاسبه و چگونگی تغییر زبری در اثر تغییر ضخامت و شرایط رشد را مورد مطالعه قرار میدهیم. ریشه ی میانگین مربعی (RMS) یا زبری در ابعاد ۵×۵میکرومتر محاسبه شد که با در نظر گرفتن زاویه بین راستای چینه بندی و محور y (45°) ، مقدارRMS بترتیب برای آهن و مس ۱/۵-۰/۵ نانومتر و ۲-۱ نانومتر محاسبه گردیده است. خواص الکتریکی این لایه ها نیز به کمک ابزار Four Point Probe (FP) مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت.