سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۶

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

پریسا خسروی کرمانی – دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف
روح ا… عظیمی راد – دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف
امید اخوان – دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف
علیرضا مشفق – دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف، پژوهشکده علوم و فناوری نانو – دانشگ

چکیده:

در این تحقیق، نانو میله های اکسید تنگستن با حرارت دادن لایه نازک اکسید تنگستن که با روش شیمیایی سل – ژل به طریق غوطه وری بـرروی زیرلایـه میکـا لایـه نشانی شده، در شرایط کنترل شده ( دمای ۸۰۰۰ C ، محیط گازی N2 به مدت زمان ۶۰ دقیقه ) رشد داده شدند . به منظور بررسی خواص فیزیکی و شـیمیایی نـانو میلـه های اکسید تنگستن تهیه شـده ، از تکنیـک میکروسـکوپی الکترونـی روبـشی (SEM) بـرای ریخـت شناسـی، شـکل، انـدازه و توزیـع آنهـا در سـطح و از تکنیـک اسپکتروسکوپی فتوالکترونهای اشعه ایکس (XPS) برای تعیین ترکیب شیمیایی سطح استفاده شد . بر اساس تحلیل نتایج بدست آمده از طیف XPS ، ۷۵% پیوندهای اکسید تنگستن روی سطح از نوع WO3و ۲۵% آنWOx هستند . با توجه به تحلیل مشاهدات تصاویر SEM ، نانو میله های سنتز شده دارای طول و پهنایی به ترتیب بین ۳ -۱۰ μm و ۲۰۰-۴۰۰ nm می باشند.