سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

محمد الهی – گروه فیزیک – دانشکده علوم – دانشگاه رازی کرمانشاه
فریبرز بهاری – گروه فیزیک – دانشکده علوم – دانشگاه رازی کرمانشاه

چکیده:

دستگاه توصیف شده در این مقاله به منظور اندازه گیری ضریب سیبک نمونه های پودری نانو ذره به کار می رود که در آن یک گرادیان دمایی در عرض نمونه توسط یک هیتر و یک سردکننده هلیومی ایجاد گردیده و سپس اختلاف ولتاژ سیبک در دماههای مختلف اندازه گیری و ضریب سیبک از شیب نمودار اختلاف ولتاژ بر حسب اختلاف دما بدست آمده است . در انتها نتایج اندازه گیری در مورد ماده بیسموت تلوراید آورده شده است