سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۵

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

محمد الهی – گروه فیزیک – دانشکده علوم – دانشگاه رازی کرمانشاه
سارا محمدی بیلانکوهی – گروه فیزیک – دانشکده علوم – دانشگاه رازی کرمانشاه

چکیده:

در این پژوهش ، لایه های نازک TiO به روش sol – gel تهیه گر دیده است که اندازه نانو ذرات با استفاده از طیـف XRD محاسـبه گردیـده و گـاف انـرژی اپتیکی برای هر نمونه با استفاده از طیف UV – VIS اندازه گیری شده است . نشان داده شده است که اندازه نانو ذرات تابعی از دمـای بازپخـت و ضـخامت نـانو ذرات است و با ا فزایش انها ، افزایش می یابد . همچنین گاف انرژی با استفاده از اندازه گیری هدایت الکتریکی و ملاحظه تغییرات ان با دما به دست امـده اسـت . دیـده شـده است که با افزایش دمای بازپخت و ضخامت افزایش می یابد