سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

مهدی رنجبر – دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران
اعظم ایرجی زاد – دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران، پژوهشکده نانو دانشگاه صنع
سیدمحمد مهدوی – دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران

چکیده:

لایه های نازک از قرصهایی با ترکیب ۵ ر ۱-۰ ر ) WO 3 (-)V 2 O 5 )x=0 به کمک لایه نشانی لیزر پالسی N d: YAG در فشار ۱۰۰ mTorr اکسیژن بر روی شیشه ساخته شدند . با استفاده از عبور اپتیکی در بازه ۱۰۰ nm تا ۱۲۰۰ nm مشخص شد که گاف انرژی اپتیکی لایه ها با افزایش x کاهش می یابد . ترکیب شیمیایی سطح به کمک اسپکتروسکوپی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) بررسی شدند . این نتایج نشان داد که وانادیم به صورت V 2 O 5 و VO 2 و تنگستن به صورت WO 3 در ترکیب اکسیدی قرار دارند . توپوگرافی سطح نمونه ها با SEM بررسی و مشخص شد در نسبتهای ۱ ر ۰ تا ۲ ر ۰ اندازه دانه ها بین ۷۰-۱۰۰ nm است و با افزایش x اندازه مرزدانه ها و همچنین ترکهای بین دانه ها افزایش می یابد . در نسبتهای ۴ ر ۰ تا ۵ ر ۰ ناهمواری لایه ها بیشتر شده و در مورد آخر دانه های کروی شکل با ابعاد حدود ۵۰۰ nm بر روی سطح شکل می گیرند . این مقایسه ها نشان می دهند در لایه نشانی لیزر پالسی برای مصارف سنسور گاز و یا کاتالیستی نسبتهای ۱ ر ۰ تا ۲ ر ۰ سطحی با ساختار نانومتری به دست داده که برای سنسورهای اپتیکی هیدروژن مناسب تر هستد