سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

مهدی گودرزی – دانشکده فیزیک – دانشگاه صنعتی شریف
روح ا… عظیمی راد – دانشکده فیزیک – دانشگاه صنعتی شریف
مرتضی فتحی پور – گروه برق – دانشکده فنی – دانشگاه تهران
علیرضا مشفق – دانشکده فیزیک – دانشگاه صنعتی شریف، پژوهشکده علوم و فناوری نانو

چکیده:

در این تحقیق ، نانومیله های اکسید تنگستن با حرارت دادن لایه نازک تنگستن که با روش اسپاترینگ بر روی زیرلایه سودا لایم لایه نـشانی شده، در شرایط کنترل شده ( دمای ۷۰۰۰ C ، محیط گازی N2 به مدت ۸۰ دقیقه ) رشد داده می شوند . نانو میله های تهیه شده . با استفاده از دستگاه طیف سنج نوری مرئی _ ماورا ء به ترتیب خواص اپتیکی ( میزان عبور و بازتاب ) ریخت (XRD )X ( و همچنین پراش اشعه SEM ( ، تکنیک میکروسکوپی الکترونی روبشی (UV-Vis)بنفش شناسی،شکل،اندازه ، ابعاد و توزیع آنها ودر نهایت تعیین فازها و ساختار کریستالی نانو میل ه ها بررسی گردید . بر اساس تحلیل نتایج بدست آمده نانو میله های سنتز شده توسط این روش دارای طول و پهنای به ترتیب بین ۱-۳ µm و ۲۷ -۳۰۰ nm می باشند . و جهت کریستالی آنها در راستای (۰۰۱) تعیین شد .