سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۵

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

عزیز دهپور – گروه شیمی ، دانشکده علوم و مهندسی ، دانشگاه امام حسین ( ع )- تهران
پرویز حسینخانی – گروه فیزیک ، دانشکده علوم و مهندسی دانشگاه امام حسین ( ع )- تهران

چکیده:

اکسید روی با پهنای باند وسیع، بعنوان یکی از اعضاء مهم خانوادة عناصر نیمه رسانای II-VI می باشد که مورد مشاهدات آزمایشگاهی قرار گرفته است . این ترکیب یکی از مواد با اهمیت و دارای کاربردهای گسترده درحسگرهای حالت جامد ، واریستور، دستگاههای امواج صوتی سطحی ، الکترودهای رسانای شفاف، باطریهای خورشیدی ، صنایع نور ماوراء بنفش و آبی و غیره ، است .
در این مقاله برای بررسی خواص ذرات نانو اکسید روی از تکنیکهای انکسار پرتو ایکس ، تصویر برداری میکروسکوپ الکترونی روبشی و طیف نگاری جذبی ماوراء بنفش استفاده شده است . انکسار پرتو ایکس تأیید کننده ساختار ورتزایت هگزاگونال چند بلوری برای ذرات نانو اکسید روی می باشد . تأ ثیر دمای بازپخت روی اندازه دانه ها توسط تصویر برداری میکروسکوپ الکترونی روبشی و طیف نگاری جذبی ماوراء بنفش مورد بررسی قرار گرفته است . در این تحقیقات به این نتیجه رسیدیم که در دمای بازپخت پائینتر ذرات نانوی ریزتری تهیه میگردد .