سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: هشتمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

پریسا خسروی کرمانی – دانشجوی کارشناسی ارشد- دانشگاه صنعتی شریف- دانشکده فیزیک، آزمایشگاه ت
روح الله عظیمی راد – دانشجوی دکتری، دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده فیزیک، آزمایشگاه تحقیقات
امید اخوان – استادیار دانشگاه صنعتی شریف دانشکده فیزیک، آزمایشگاه تحقیقاتی اسپات
علیرضا مشفق – استاد دانشگاه صنعتی شریف دانشکده فیزیک ، آزمایشگاه تحقیقاتی اسپاترین

چکیده:

در این تحقیق، نانو دیواره های اکسید تنگستن با حرارت دادن لایه نازک اکسید تنگستن که با روش شیمیایی سل- ژل به طریق غوطه وری بر روی زیرلایه سودا لایم لایه نشانی شده، در شرایط کنترل شده (دمای ۷۰۰ درجه سانتیگراد، محیط کاری( N(2 به مدت زمان ۸۰-۶۰ دقیقه) رشد داده می شوند. به منظور بررسی خواص فیزیکی و شیمیایی نانو دیواره های اکسید تنگستن تهیه شده، با استفاده از دستگاه طیف سنج نوری مرئی- ماوراء بنفش (UV-Visible) خواص اپتیکی (میزان عبور و بازتاب)، تکنیک میکروسکوپی الکترونی روبشی (SEM) ریخت شناسی، شکل، اندازه، ابعاد و توزیع آنها در سطح، پراش اشعه X(XRD) برای تعیین فازهای شیمیایی و شناسایی ساختار کریستالی نانو دیواره ها، مورد مطالعه و ارزیابی قرار گرفت. بر اساس تحلیل نتایج بدست آمده، میزان عبور نمونه ها نسبت به حالت بدون پخت کاهش یافت و ه مچنین لبه جذب نمونه ها در طول موج ۳۱۰nm =λ اندازه گیری شد. میزان عبور و بازتاب این نمونه ها قبل از پخت به ترتیب ۸۰% و کمتر از ۱% در ناحیه مرئی در طول موج طول موج ۵۰۰nm تعیین شد. عبور نمونه ها بعد از پخت ۱۰% و بازتاب آنها تغییر چندانی نمی کند. با توجه به تحلیل مشاهدات تصاویر SEM، نانو دیواره های سنتز شده دارای طول و پهنایی به ترتیب بین mµ ۳۰-۱۰ و nm 300-100 می باشند. همچنین افزایش مدت زمان پخت در دمای ۷۰۰ درجه سانتیگراد باعث افزایش پهنای نانو دیواره ها می شود. با استفاده از تکنیک XRD جهت گیری کریستالی آنها در راستای (۱۱۰) تعیین شد.