سال انتشار: ۱۳۹۰

محل انتشار: دومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیزر ایران

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

میرعلی غیبی –
مهدی سویزی – دانشگاه ولی عصر (عج) رفسنجان، گروه فیزیک

چکیده:

در این مقاله، نخست پراکندگی موج تکفام با قطبشمیدان الکتریکی و مغناطیسی عرضی توسط مجموعهای از کرههای دیالکتریکبا شعاعها، ضرایب شکست و مکانهای کاملاً دلخواه در فضا به روشعددی عناصر مرزی محاسبه شده است. سپسبا محاسبهی میدان دور حاصل از یکنانو کرهی دیالکتریککه در حوزهی میدان نزدیکیکسطح ناهموار قرار داده شده است، نقشهی توپوگرافی سطح در سه بعد، شبیهسازی شده است که تطابق خوبی با نتایج گزارششده مشاهده گردید. فرضشده است کرهی دیالکتریکنقشنوک کاوهی میکروسکوپ روبشی میدان نزدیکرا بازی میکند و تأثیر ارتفاع کرهی دیالکتریکروبشگر در کیفیت تصویر توپوگرافی مورد بررسی قرار گرفته است. همچنین کیفیت تصویر برای دو مد عرضی الکتریکی و مغناطیسی مقایسه گشته است. دقت و سرعت بالا و حجم پایین اطلاعات محاسباتی از مزایای این روشنسبت به روشهای دیگر میباشد