سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: نهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

الهام زمانی دوست – دانشگاه شهید بهشتی، دانشکده برق و کامپیوتر

چکیده:

آزمون یکی ازمراحل مهم در تولید مدارهای VLSI است. در مدار های خود آزمون داخلی مسایل مهمی مانند مساحت مدار آزمون و توان مصرفی مورد توجه قرار می گیرد. در این مقاله ساختار جدیدی برای تولید بردارهای آزمون ارایه شده است که نسبت به ساختار های قبلی از کارایی بالاتری برخوردار می باشد