سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۶

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

غلامرضا نبیونی – گروه فیزیک دانشگاه اراک
افق تیزنو – گروه فیزیک دانشگاه اراک

چکیده:

این کار، خواص مغناطیسی لایه های آلیاژی Ni100-xCux تهیه شده به روش الکتروانباشت روی زیرلایه سیلیکون نوع n مورد مطالعه قرار گرفته است . سطح نمونه ها توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) آنالیز شده، نسبت های واقعی نیکل و مس در ترکیب بوسیله آنالیز پرتوهای ایکس این دستگاه (EDS) بدست آمده، با نسبت های اسمی مقایسه گردیده است . منحنی های پسماند مغناطیسی نمونه ها بوسیله مغناطوسنج نیروی گرادیان متناوب (AGFM) رسم گردیده، تغییر خواص مغناطیسی با تغییر مقدار x مورد بررسی قرار گرفته است