سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: نهمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

علی جلیل پیران – دانشگاه پیام نور مرکز فارسان

چکیده:

برای آنالیز ساختار شبکه لایه های نازک CdS که به روش تبخیر گرمایی در دمای اتاق تهیه شده از پراش اشعه ایکس (XRD) استفاده شده است . اثر بازپخت در مجاورت هوا بر ساختار شبکه در دماهای ۱۰۰، ۱۵۰، ۲۰۰ و ˚۳۰۰C بررسی و با لایه های بدون بازپخت مقایسه شده است . و برای لایه ها ساختار شش گوش با جهت رشد ( ۰۰۲ ) مشاهده میشود. ساختار کریستالی، مشخصهی جریان ولتاژ در تاریکی، اثر دما بر رسانندگی در تاریکی و همچنین فوتورسانایی بصورت تابع از دمای بازپخت در مجاورت دما بررسی شد. مقاومت ویژه در رنج ۰/۳۷۵-۲۵ Ωcm در دمای اتاق اندازهگیری شد. که کمترین مقدار در دمای ˚۱۵۰C مشاهده شد.