سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۷

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

عبدالعلی ذوالانواری – گروه فیزیک دانشگاه اراک
جعفر نظام دوست – گروه فیزیک دانشگاه اراک – جهاد دانشگاهی
حسین صادقی – گروه فیزیک دانشگاه اراک

چکیده:

در این مقاله خواص مغناطیسی لایه های نازک آهن بر روی زیر لایه هایی از جنس سیلیکون ( ۱۰۰ ) و ( ۱۱۱ ) به کمک تکنیکهای میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) مغناطش سنجی گرادیان نیروی متناوب (AGFM) مورد مطالعه قرار گرفته است. با استفاده از نقش حوزه های مغناطیسی در تصاویر MFM منحنیهای پسماند مغناطیسی حاصل از تکنیک AGFM، خواص فرومغناطیسی نمونه ها، گزارش شده است. درچند تصویر، نواحی تاریک و روشن مطابق با حوزه های مغناطیسی مربوط به اسپین های هم جهت، به سمت پایین و بالا نمایش داده شده، بطوریکه محدوده ای بین ۴-۲ میکرومتر را برای پهنای حوزه ها در لایه های آهن با ضخامت ۱۰۰ نانومتر می توان تخمین زد. همچنین از روی منحنی های پسماند، میدان وادارنده ای به میزانOe 100 برای نمونه ها بدست آمده ودر مورد ناهمسانگردی با توجه به کاهش مغناطش آهن بواسطه نفوذ به داخل زیر لایه، بحث شده است.