سال انتشار: ۱۳۹۳
محل انتشار: دومین کنفرانس دستاوردهای نوین در مهندسی برق و کامپیوتر
تعداد صفحات: ۶
نویسنده(ها):
پیمان عشوریان – دانشگاه صنعتی بابل دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر
یاسر بالغی دماوندی – دانشگاه صنعتی بابل استادیار گروه مهندسی الکترونیک

چکیده:
شبیه سازی سخت افزاری (کد VHDL) ساختارهای دو بعدی و سه بعدی الگوریتم ژنتیک سلولی تحمل پذیر خطا در این مقاله ارائه می شود هدف این مقاله افزایش مقاومت الگوریتم ژنتیک مقابل خطای واژگونی رخداد یکتا است که باعث شده است یک یا چند بیت کروموزوم های الگوریتم ژنتیک مقدارشان واژگون شوند الگوریتم ارائه شده با استفاده از روش کد گذاری و به کارگیری روش های ابتکاری در اتصال عنصر های پردازشی توانسته مقاومت الگوریتم ژنتیک سلولی را افزایش دهد . در بخش نتایج آزمایش ها، دو معیار مقایسه و دو ساختار مختلف از الگوریتم ژنتیک سلولی تحمل پذیر خطا، برای بهینه سازی چهار تابع آزمون جهت آنالیز و مقایسه دو ساختار مذکور استفاده شده است نتایج آزمایش ها مقاومت الگوریتم پیشنهادی در برابر خطای واژگونی رخداد یکتا را اثبات می کند و نشان می دهد که الگوریتم ارائه شده با وجود داشتن خطای مذکور در ثبات کروموزوم همه عنصرهای پردازشی می تواند به جواب بهینه برسد.