سال انتشار: ۱۳۸۳

محل انتشار: دوازدهیمن کنفرانس مهندسی برق ایران

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

محمد فضائلی فر – دانشگاه شیراز
حبیب ا.. عبیری – دانشگاه شیراز
احمد چلداوی – دانشگاه علم و صنعت
علیرضا ملاح زاده – دانشگاه شیراز

چکیده:

در این مقاله از روش عددی تمام موج TLM (Transmission Line Matrix)سه بعدی برای آنالیز ناپیوستگی در خطوط مایکرواستریپ استفاده شده است و پارامترهای -S ناپیوستگی ، با استفاده از روش فوق بدست آمده است . برای بدست آوردن پارامترهای – S نیاز به ایجاد تطبیق کامل روی پورتها می باشد . لذا از لایه های PML(Perfect Matched Layers)برای این منظور استفاده شده است و معادلات PML در روشTLMپیاده سازی شده اند . همچنین ساختارهای مایکرواستریپ مذکور با استفاده از روش شبه -TEM نیز مورد تحلیل قرار گرفته است . نتایج حاصل از این دو روش مقایسه شده اند و نشان داده شده است که در فرکانسهای پائین مایکرویو ، این نمودارها بر هم منطبق می باشند . ولی با افزایش فرکانس این نمودارها از هم دور می شوند و روش شبه -TEMدیگر معتبر نمی باشد و TLM استفاده شده در این مقاله برای حل معادلات ماکسول از نوعSCN(Symmetrical Condensed Node)می باشد .