سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: دومین همایش دانشجویی فناوری نانو

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

محمد الماسی – دانشگاه کاشان
فاطمه یعقوبی شاد – دانشگاه کاشان

چکیده:

در این مقاله ساختار بلوری زیر لایه های NiAl , Cr با یکدیگر مقایسه گردیده است. تغییرات درصد نیکل در زیر لایه و اثرات آن بر خواص مغناطیسی لایه نازک Co75Cr12Pt112 مورد بررسی قرار گرفت. با افزایش ضخامت زیر لایه NiAl به علت افزایش قدرت تفکیکدانه های مغناطیسی و بهبود سمت گیری محور شش وجهی در صفحه فیلم قدرت وادارندگی افزایش یافت. تاثیر ضخامت لایه نازک مغناطیسی بر روی زیر لایه Cr از جمله موارد دیگر مورد بررسی بود. ریخت شناسی سطح فیلم ها نشان دادند که افزایش ضخامت فیلمخواص مغناطیسی لایه نازک را متاثر می سازد.