سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

سکینه حسین آبادی – گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
عبدالله مرتضی علی – گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
محمدرضا سرکرده ای – گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
رضا جعفری – دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شریف، تهران

چکیده:

در این مقاله ، لایه های نازک آلمینیومی در ۵ ضخامت مختلف با استفاده از دستگاه تبخیر در خلا بر روی سطوح شیشه ای لایه نشانی شده اند . با استفاده از اطلاعات حاصل از میکروسکوپ نیروی اتمی ) ) AFM ، زمختی ( زبری ) و طول همدوسی این سطوح اندازه گیری شده است . بررسی بازه تقریب کیرشهف در پراکندگی نور از سطوح آلمینیومی ، تعیین شدت نور پراکنده در زوایای پراکندگی مختلف و همچنین خواص اپتیکی از قبیل بازتاب و پراکندگی نانو ساختاری از آن سطوح در ضخامت های مختلف از جمله مراحل این تحقیق می باشد .