سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: دوازدهمین کنگره ملی مهندسی شیمی ایران

تعداد صفحات: ۱۵

نویسنده(ها):

کاظم مجدزاده اردکانی – دانشگاه اصفهان ، دانشکده فنی و مهندسی ، گروه مهندسی شیمی
امیر حسین نوارچیان – دانشگاه اصفهان ، دانشکده فنی و مهندسی ، گروه مهندسی شیمی

چکیده:

میزان پخش لایه های سیلیکاتی در ماتریس پلیمری ، برای بررسی خواص این نانو کامپوزیت ها مورد نیاز است . در تحقیق حاضر ، یک روش جدید جهت کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی خاک رس در ماتریس پلیمر ، توسط پردازش تصاویر میکروسکوپی عبوری (TEM) ارائه شده است . در این روش ریال تعیین دقیق ساختارهای مختلف ورقه ای (Exfoliation) ، جایگیری بین لایه ای (Intercalation) و امتزاج ناپذیر (Immiscible) موجود در تصاویر میکروسکوپی عبوری امکان پذیر می باشد . تصاویر TEMمربوط به چندین نمونه نانو کامپوزیت با ساختار ورقه ای ، جایگزین بین لایه ای و امتزاج ناپذیر ، در زمینه های مختلف پلیمری مورد مطالعه قرار گرفت و میزان ورقه ای شدن ، جایگیری بین لایه ای و امتزاج ناپذیری لایه های سیلیکاتی ، مستقل از مقدار این لایه ها ، از طریق پردازش تصاویر میکروسکوپی عبوری تعیین گردید . مشخص شد که نتایج کمی حاصل از این کار با الگوهای پراش پرتوX(XRD) و روش های ارائه شده توسط محققان دیگر ، مطابقت دارد .