سال انتشار: ۱۳۸۷

محل انتشار: دومین کنگره مشترک سیستم های فازی و سیستم های هوشمند

تعداد صفحات: ۶

نویسنده(ها):

مجید معاونیان – دانشکده ی مهندسی دانشگاه فردوسی مشهد
سیدمصطفی کلامی هریس – دانشجوی کارشناسی ارشد
امین ثقفی – دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی مکانیک

چکیده:

تکنولوژی های اندازه گیری با دقت و حساسیت بالا، به شدت نیاز به ایزولاسیون ارتعاشی به منظور بدست آوردن نتایج و جواب های دقیق دارند. این موضوع در کاربردهای صنعتی گوناگون از قبیل ساخت و تست نیمه هاد یهاwafer) در ابعاد نانو، در زمینه های بیولوژی سلولی و در بررسی های ساختار ملکولی مواد با استفاده از میکروسو پهای الکترونیSEM) از اهمیت ویژه ای برخوردار م یباشد. کارایی و عملکرد تمام این موارد توسط ارتعاشات مکانیکی تحت تاثیر قرار می گیرد. پایه های ارتعاشی غیرفعال دربسیاری از موارد برای نگهداری تجهیزات و به منظور حفاظت آن از ارتعاشات ناخواسته استفاده می گردند. در این مقاله به ایزولاسیون فعال تجهیزات حساس ارتعاشی پرداخته می شود. کنترل فعالی را که با استفاده از معیارهای کنترلHو توسطParticle SwarmPSO) Optimization پیشنهاد شده است، ارائه و کاربرد آن در ایزولاسیون یک میکروسکوپ اتمی بررسی می گردد. کنترلر مورد استفاده به صورت فیدبک ثابت خروجی اعمال و سپس بهینه سازی مورد نیاز برای بهینه کردن پاسخ فرکانسی سیستم، با استفاده ازالگوریتمPSO انجام و درخاتمه نتایج حاصل از این شبی هسازی ها ارائه گردیده است