سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: پانزدهیمن کنفرانس مهندسی برق ایران

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

رضا نورمندی – واحد علوم و تحقیقات – حصارک
احمد خادم زاده – مرکز تحقیقات مخابرات ایران

چکیده:

در این مقاله روشی را بکار برده ایم که از آزمایشهای شبه تصادفی بهره برده وبا کمترین هزینه و سربار مساحتی هسته های حافظه را فقط با الگوهای تصادفی مورد ازمایش قرار می دهد. این روش یک روش آزمایش نیمه توکار(SBIST) است. زیرا در آن از یک پیچنده استفاده شده که استراتژی کدهای ماتریسی را برای آزمایش هسته حافظه بکار می برد و نتایج آزمایش را به یک آزماینده خارجی جهت مقایسه و تشخیص اشکال بصورت سریال ارسال میکند. این روش با حداقل سربار مساحتی دارای قابلیت آشکارسازی و مکان یابی اشکالات را داراست.