سال انتشار: ۱۳۸۵

محل انتشار: دوازدهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

مازیار پالهنگ – عضو هیأت علمی دانشگاه، دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی برق و کا
پیروز شمسی نژاد بابکی – دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی برق و کا

چکیده:

با توجه به اهمیت آزمون در مدارهای منطقی تا کنون روشهای زیادی برای تولید یک تجربه آزمون با حداکثر پوشش خرابی ارائه شده است. در این مقاله یک روش جدید برای تولید الگوی آزمون مدارهای منطقی ترکیبی ارائه میشود که مبتنی بر شبیه سازی خرابی میباشد.روش جدید از یک الگوریتم ژنتیک برای یافتن بردارهای آزمون با قدرت تشخیص خرابی بالا استفاده میکند. سپس با استفاده از یک روش جدید دیگر از میان بردارهای آزمون حاصل از مرحله قبل یک تجربه آزمون را استخراج می- کند.
برتری این روش بر روش تولید تجربه تصادفی دستیابی به تضمین بالایی از صحت کار مدار و نسبت به روشهای حساس سازی مسیر مانند الگوریتمD مرتبه پایین تر الگوریتم آن میباشد. روش ارائه شده بر روی چندین مدار اعمال شده است و مقایسهنتایج با روش تولید تصادفی تجربه های آزمون در مقاله آورده شده است