مقاله ارتعاشات خمشي تير يکسر گيردار ميکروسکوپ نيروي اتمي و تاثير پارامترهاي ابعادي بر آن که چکیده‌ی آن در زیر آورده شده است، در تابستان ۱۳۸۸ در اميركبير مهندسي مكانيك (اميركبير) از صفحه ۱۹ تا ۲۶ منتشر شده است.
نام: ارتعاشات خمشي تير يکسر گيردار ميکروسکوپ نيروي اتمي و تاثير پارامترهاي ابعادي بر آن
این مقاله دارای ۸ صفحه می‌باشد، که برای تهیه‌ی آن می‌توانید بر روی گزینه‌ی خرید مقاله کلیک کنید.
کلمات مرتبط / کلیدی:
مقاله ميکروسکوپ نيروي اتمي غير تماسي
مقاله تحليل فرکانسي
مقاله جرم و اينرسي تيپ
مقاله تير اولر برنولي

نویسنده(ها):
جناب آقای / سرکار خانم: فرشيديان فر انوشيروان
جناب آقای / سرکار خانم: مهدوي محمدهادي
جناب آقای / سرکار خانم: دلير حميد

چکیده و خلاصه‌ای از مقاله:
ميکروسکوپ نيروي اتمي (Atomic Force Microscope) يا به اختصار AFM، ابزاري قدرتمند و ضروري در نانوتکنولوژي است که براي مطالعه، تصويربرداري و شناسايي مواد مختلف با تفکيک اتمي بکار مي رود و در سه مد تماسي، غيرتماسي و کوبشي کار مي کند. در اين مقاله ارتعاشات خمشي تير يکسرگيردار مورد استفاده در اين دستگاه که در مد غير تماسي نمونه هايي با سختي سطح متفاوت را اسکن مي کند بررسي مي شود. يافتن فرکانسهاي طبعي تير و تحليل فرکانسي مجموعه مرتعش، از اهميت بسيار زيادي برخوردار است و طيف وسيعي از تحقيقات به آن مي پردازد. در اين مقاله ابتدا معادلات ارتعاش عرضي تير با در نظر گرفتن جرم و مان اينرسي جرمي تيپ (Tip) انتهاي آن که قبلا از آن صرفنظر شده است به روش تحليلي دقيق و با استفاده از تئوري تير اولر – برنولي استخراج شده است. سپس ميزان تفاوت نتايج حاصل از معادلات محققين قبلي با معادلات اخير در مطالعه موردي بررسي شده است. نتايج حاصل نشان مي دهد که اثر تيپ بسته به ابعاد آن، قابل ملاحظه بوده و بايستي براي رسيدن به تصويربرداري دقيق تر نمونه ها در هنگام طراحي منطق عملکردي دستگاه در نظر گرفته شود. در انتها ميزان تاثير زاويه تمايل تير نسبت به سطح و ارتفاع تيپ بر فرکانس هاي تشديد مجموعه بررسي مي شود.