سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: اولین کنفرانس بین المللی تحقیق در عملیات ایران

تعداد صفحات: ۲

نویسنده(ها):

Chih-Hsiung Wang – Department of Business Administration, National Pingtung Institute of Commerce, Taiwan

چکیده:

In this study, we reformulated the problem of wafer probe operation in semiconductor manufacturing to consider a probe machine (PM) which has a discrete general shift distribution